微显示模组系统级检测
对于新型显示器件Module产品点亮后的光学、电学等性能，进行拍照、分析检测的全自动设备，应用在Micro LED显示产品切割后的Module段点灯工序的显示功能及缺陷检测。
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产品优势
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01自研Demura&AOI&外观检测算法，可快速完成CSV数据烧录补偿和点、线、外观不良的检测
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02自研自动对焦算法，解决因相机景深太小导致的成像不清晰问题
产品功能
1.全自动上下、料和良品、不良品分类
2.Micro-LED/Micro-OLED显示模组的均一性和De-Mura补偿，改善显示效果
3.同时进行亮点、暗点、线不良、色差、异物、划痕等画面和外观不良检测
4.不良检出图片和log数据实时存档，便于品质追溯
5.对接客户CIM系统，实时上报生产数据
